Логин
(фамилия)
:
Пароль
(штрих-код)
:
Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска
Базы данных:
Электронный каталог МУБиНТ, г. Ярославль
Электронный каталог МУБиНТ, г. Рыбинск
Центр иностранной литературы
Сводный каталог НТЛ по Ярославской области
"Руконт"-Национальный цифровой ресурс
Электронный каталог выпускных квалификационных работ
Виды поиска:
Стандартный
Расширенный
По словарю
Поиск в найденном
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
Найдено в других БД:
"Руконт"-Национальный цифровой ресурс (17)
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>K=МИКРОСКОПИЯ<.>)
Общее количество найденных документов
:
47
Показаны документы
с 1 по 20
1..20
21..40
41..47
1.
В379.2я73
Р94
Рыков, Сергей Александрович
.
Сканирующая зондовая
микроскопия
полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учебное пособие для вузов / С. А. Рыков ; Под общ. ред. В. И. Ильина, А. Я. Шика;Мин-во образования РФ. - СПб. : Наука, 2001. - 53с. - !oser.pft: FILE NOT FOUND! . -
ISBN
5-02-024956-4 : 10.00 р.
ББК
В379.2я73
Рубрики:
электронная техника
физика полупроводников
Кл.слова (ненормированные):
учебник З233 Ю959
--
учебник В379.2
--
диагностика полупроводниковых материалов
--
наноструктуры
Держатели документа:
ЯрГУ ЯрГУ/НА/НБ
Свободных экз. нет
Найти похожие
2.
22.338.4
П 16
Пантелеев, В. Г.
Компьютерная
микроскопия
[Текст] / В. Пантелеев, О. Егорова, Е. Клыкова. - Москва : Техносфера, 2005. - 303 с. : ил ; 22 см. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. [302]-303. - 2000 экз. -
ISBN
5-94836-025-3 : 390 р.
ББК
22.338.4
Рубрики:
Микроскопы электронные
Кл.слова (ненормированные):
Анализаторы изображений
--
Компьютерная
микроскопия
Держатели документа:
ЯОУНБ
Доп.точки доступа:
Егорова, О. В. ; Клыкова, Е. И. ЯОУНБ/пто
Свободных экз. нет
Найти похожие
3.
577.1+577.3
С 42
Сканирующая зондовая
микроскопия
биополимеров [Текст]. - М. : Науч.мир, 1997. - 87с. - (Сканирующая зондовая
микроскопия
.Вып.1). - Библиогр.:с.82. -
ISBN
5-89176-031-2 : Б. ц.
УДК
577.1+577.3
Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие
4.
620.18
М 64
Миронов, В.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для старших курсов вузов / В. Миронов. - М. : Техносфера, 2005. - 443 с. - (Мир физики и техники). - Библиогр. : с. 140-143. -
ISBN
5-94836-034-2 : 225-00 р.
УДК
620.18
Рубрики:
Испытания материалов--саканирующая зондовая микроструктура
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая
микроскопия
Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие
5.
577.1+577.3
С 42
Сканирующая зондовая
микроскопия
биополимеров [Текст]. - М. : Науч.мир, 1997. - 87с. - (Сканирующая зондовая
микроскопия
.Вып.1). - Библиогр.:с.82. -
ISBN
5-89176-031-2 : Б. ц.
УДК
577.1+577.3
Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие
6.
620.18
М 64
Миронов, В.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для старших курсов вузов / В. Миронов. - М. : Техносфера, 2005. - 443 с. - (Мир физики и техники). - Библиогр. : с. 140-143. -
ISBN
5-94836-034-2 : 225-00 р.
УДК
620.18
Рубрики:
Испытания материалов--саканирующая зондовая микроструктура
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая
микроскопия
Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие
7.
621.357
К56
Ковенский, И. М.
Испытания гальванических покрытий [Текст] : справочное издание / И.М. Ковенский, В.В. Поветкин. - М. : "Интермет Инжиниринг", 2001. - 136 с. : ил. - Библиогр.: с.134-135 . -
ISBN
5-89594-061-7 (в пер.) : 198.00 р.
ГРНТИ
53.49
УДК
621.357
620.178
Кл.слова (ненормированные):
МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ
--
твердость
--
прочность
--
внутренние напряжения
--
вязкость разрушения
--
трещиностойкость
--
адгезионная
--
жаростойкость
--
паяемость
--
испытания
--
коррозионная стойкость
--
пористость
--
покрытий
--
микроскопические
--
методы исследования
--
световая
--
микроскопия
--
автоионная
--
растровая
--
электронная
--
рентгеноспектральный
--
микроанализ
--
анализ
--
спектроскопия
--
резонансные
--
методы исследования
--
ядерный
--
гамма-резонанс
--
эффект Мессбауэра
--
аннигиляция позитронов
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Поветкин, В.В.
Свободных экз. нет
Найти похожие
8.
620.19
К43
Кирсанов, В. В.
Процессы радиационного дефектообразования в металлах [Текст] : к самостоятельной работе / В.В. Кирсанов, А.Л. Суворов, Ю.В. Трушин. - М. : Энергоатомиздат, 1985. - 272 с. : граф., схем, табл., фото. - Библиогр.: с.264-270. - (в пер.) : 3.50 р.
ГРНТИ
30.19.29
УДК
620.19
Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛЫ
--
ОБЛУЧЕНИЕ
--
КЛАССИФИКАЦИЯ
--
СТРУКТУРА
--
МИКРОСКОПИЯ
--
АВТОЭМИССИОННАЯ
--
ЭЛЕКТРОННАЯ
--
МИКРОЗОНДОВЫЕ
--
АНАЛИЗЫ
--
ТОЧЕЧНЫЕ
--
ПОВЕРХНОСТНЫЕ
--
ЭФФЕКТЫ
--
ДИНАМИЧЕСКИЕ
--
РАСЧЕТ
--
КАСКАДНЫЕ
--
ФУНКЦИИ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Суворов, А.Л.; Трушин, Ю.В.
Свободных экз. нет
Найти похожие
9.
620.22
Д50
Дифракционные и микроскопические
методы в материаловедении [Текст] : пер. с англ. / Ред. С. Амелинкс, Р. Геверс, Дж. Ван Ландё. - М. : Металлургия, 1984. - 503 с. : граф., рис., фото. - Библиогр.: с. 500-502. - (в пер.) : 6.20 р.
ГРНТИ
81.09
УДК
620.22
Кл.слова (ненормированные):
электронная
микроскопия
--
рентгенография
--
нейронография
--
медленных электронов
--
автоионная
микроскопия
--
метод слабых пучков
--
идентификация
--
малых кластеров
--
фазовые превращения
--
мартенситные
--
кикучи-линии
--
рентгеновская топография
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Амелинкс, С. \ред.\; Геверс, Р. \.\; Ван Ландё, Дж. \.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
10.
620.22
Б87
Брандон, Д
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие для вузов: Пер. с англ. / Д Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. -
ISBN
5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р.
Приложения: с. 363-375
ГРНТИ
81.09.03
УДК
620.22
Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
--
КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
--
ПАРАМЕТРЫ
--
ИЗОБРАЖЕНИЕ
--
Оже - электронов
--
рентгеновский АНАЛИЗ
--
КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ
--
ДИФРАКЦИОННЫй
--
РАССЕЯНИЕ излучения
--
СТРУКТУРА
--
ЭЛЕКТРОННАЯ
--
ДИСЛОКАЦИИ
--
РЕШЕТКА
--
ТОЧЕЧНАЯ
--
ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ
--
ЯЧЕЙКИ
--
ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы
--
ИНДЕКСЫ Миллера
--
ЕДИНИЧНыЕ векторы
--
СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ
--
ПРОЕКЦИИ
--
ПОСТРОЕНИЕ
--
ЦЕМЕНТИТ
--
РАССЕЯНИЕ излучения
--
УРАВНЕНИЕ Лауэ
--
Брэгга
--
ДИАГРАММЫ Кукучи
--
ОБРАТНОЕ пространство
--
ПОРОШКОВАЯ
--
ПОЛИКРИСТАЛЛическая
--
МОНОКРИСТАЛЛЫ
--
АТОМНОЕ
--
СТРУКТУРНЫЙ
--
КОЭФФИЦИЕНТ
--
ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов
--
МНОГОСЛОЙНЫЕ
--
нанопокрытие
--
ОПТИЧЕСКая
--
ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА
--
КОНСТРУКЦИЯ
--
МЕТОД фазового контраста
--
дифференциально - интерференционного
--
темного поля
--
многолучевой интерференции
--
катодолюминисценция
--
НАПЫЛЕНИЕ покрытия
--
ФРАКТОГРАФИЯ
--
ИЗМЕРЕНИЕ параллакса
--
МИКРОАНАЛИЗ
--
ХИМИЧЕСКИЙ
--
поверхности
--
ФОТОЭЛЕКТРОННая
--
СПЕКТРОСКОПИЯ
--
ИОННАЯ
--
масс - спектрометрия
--
калибровка
--
стереология
--
ИЗОТРОПИЯ
--
АНИЗОТРОПИЯ
--
гомогенность
--
ГЕТЕРОГЕННОСТЬ
--
межплоскостные углы
--
гексагональная
--
ИССЛЕДОВАНИЯ
--
поляризованный свет
--
ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ
--
ЛАЗЕРНЫЙ
--
СКАНИРующий
--
МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ
--
МИКРОСКОПИЯ
--
КЕРАМИКА
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие
11.
620.18
Э62
Энгель, Л.
Растровая электронная
микроскопия
. Разрушение: Справочник [Текст] : пер. с нем. / Л. Энгель, Г. Клингеле; Ред. М.Л. Бернштейн. - М. : Металлургия, 1986. - 232 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 224. -Предм. указ.: с.225-231. - 1.60 р.
Приложения: с. 221-223
ГРНТИ
30.19.29
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
СТРОЕНИЕ
--
МЕТАЛЛОВ
--
КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
--
ПЛАСТИЧЕСКАЯ ДЕФОРМАЦИЯ
--
МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ
--
рентгеновский
--
ВОЗБУЖДЕНИЕ
--
ЛУЧОМ
--
ЭНЕРГОдисперсионный
--
ДИФРАКЦИОННО - дисперсионный
--
микроРЕНТГЕНОВСКИЙ
--
Оже - СПЕКТРОСКОПИЯ
--
образование ДЕФЕКТов
--
ПОВЕРХНОСТИ
--
МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОГО
--
ПРОИСХОЖДЕНИЯ
--
механические ИЗЛОМы
--
ВЯЗКий
--
ХРУПКОЕ
--
УСТАЛОСТНЫЕ
--
ТРЕЩИНЫ
--
ВОДОРОДА
--
ударный ИЗНОС
--
ЭРОЗИОННыЙ
--
КОНТАКТНЫЕ
--
ФРЕТТИНГ - коррозия
--
КАВИТАЦИОННЫЙ
--
ОПЛАВЛЕНИЕ
--
ГАЗОВАЯ
--
ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКАЯ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Клингеле, Г.; Бернштейн, М.Л. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
12.
620.18
Т56
Томас, Г.
Электронная
микроскопия
металлов. Прямое исследование металлов в просвечивающем электронном микроскопе [Текст] : пер. с англ. / Г. Томас; Ред. Л.М. Утевский. - М. : Иностранная литература, 1963. - 352 с. : граф., фото, рис. - Библиогр. в конце глав. - (в пер.) : 1.68 р.
Приложения: с.325-347
ГРНТИ
29.35.43
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
ЯВЛЕНИе рассеяния
--
ВОЛНОВАЯ природа электронов
--
резерфордовское
--
ЗАКОН Брэгга
--
УРАВНЕНИЯ Лауэ
--
ОБРАТНОЕ ПРОСТРАНСТВО
--
микроДИФРАКЦИЯ
--
ЛИНИИ Кикучи
--
преломление
--
ИЗОБРАЖЕНИЕ кристаллов
--
КИНЕМАТИЧЕСКая
--
ТЕОРИЯ дифракционного контраста
--
АБСОРБЦИЯ
--
ПУШКа
--
КОНДЕНСорные линзы
--
ТЕХНИКА киносъемки
--
ПОДГОТОВКА образцов
--
КОПИРОВАНИЕ рельефа репликами
--
ФРАКТОГРАФИЯ
--
МЕТОД тонких фольг
--
НАБЛЮДЕНИЕ радиационных нарушений
--
РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИЯ
--
ПРЕВРАЩЕНИЙ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Утевский, Л.М. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
13.
620.18
С56
Современная электронная
микроскопия
в исследовании вещества [Текст] : сборник научных трудов / Ред. Б.Б. Звягин ; АН СССР. - М. : Наука , 1982. - 286 с. : граф., фото, рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - 2.10 р.
ГРНТИ
29.35.43
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
СКАНИРУЮЩая
--
МЕТОДЫ
--
НАБЛЮДЕНИя роста
--
ТОНКИХ пленок
--
КРИСТАЛЛИЗАЦИИ
--
ДИФРАКЦИЯ электронов
--
СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ
--
СПЕКТРОСКОПИЯ
--
БИОЛОГИЧЕСКИх
--
МАКРОмолекул
--
ПОВЕРХНОСТИ
--
межзеренные границы
--
МЕЖФАЗНыЕ
--
гетероэпитаксиальные
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Звягин, Б.Б. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
14.
620.18
С51
Смолмен, Р.
Современная металлография [Текст] : пер. с англ. / Р. Смолмен, К. Ашби; Ред. В.Б. Семикоз . - М. : Атомиздат, 1970. - 208 с. : схем, табл., фото. - Библиогр. в конце глав. - 1.04 р.
ГРНТИ
53.49.19
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
ОПТИЧЕСКАЯ
--
МИКРОСКОПИЯ
--
ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ
--
ПОВЕРХНОСТНАЯ
--
ТОПОГРАФИЯ
--
ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ
--
ПОЛЯРИЗАЦИОННая
--
ПОЛЯРИЗОВАННЫЙ СВЕТ
--
АНИЗОТРОПИЯ
--
ПОВЕРХНОСТЕЙ
--
РЕНТГЕНОГРАФИЯ
--
МЕТАЛЛОВ
--
БЕЛоЕ излучение
--
ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКое
--
метод Лауэ
--
ПОРОШКОВ
--
ПРАВИЛО Брэгга-Вульфа
--
СТРУКТУРНЫЙ фактор
--
ДИФРАКЦИОННая техника
--
МИКРОЗОНДОВЫй анализ
--
ДИСЛОКАЦИИ
--
ЭЛЕКТРОННЫЙ
--
МИКРОСКОП
--
ТЕОРИЯ контраста
--
АНАЛИЗ электронограмм
--
АТОМНЫЕ дефекты
--
КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА
--
НЕЙТРОНЫ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Ашби, К.; Семикоз , В.Б. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
15.
621.38
Н25
Нанотехнологии в электронике
[Текст] : монография / Ред. Ю.А. Чаплыгин. - М. : Техносфера, 2005. - 448 с. : рис., схем, табл. - Библиогр. в конце глав. -
ISBN
5-94836-059-8 (в пер.) : 237.50 р.
ГРНТИ
47.13
УДК
621.38
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ
МИКРОСКОПИЯ
--
УГЛЕРОДНЫХ
--
МАТЕРИАЛОВ
--
ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ
--
ЗОНДОВАЯ
--
фуллерены
--
наноструктуры
--
нанотрубки
--
нанолитография
--
ОКИСЛЕНИЕ
--
нелитографические
--
МЕТОДЫ
--
ФОРМИРОВАНИЯ
--
ПОВЕРХНОСТНЫХ
--
ЛИТОГРАФИЧЕСКИЕ
--
ПЛАЗМЕННЫЕ
--
САМООРГАНИЗОВАННЫЕ
--
ИМПЛАНТИРОВАННЫЕ
--
ПОЛУПРОВОДНИКОВ
--
КВАНТОВЫЕ
--
ТОЧКИ
--
углеситалы
--
гетероструктуры
--
фотоника
--
ОПТИЧЕСКИЕ
--
ВОЛОКНА
--
СЕНСОРЫ
--
нанокомпозиты
--
нанокерамики
--
ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЕ
--
СВЕРХПРОВОДНИКИ
--
ДАТЧИКИ
--
наноэлектромеханические
--
СИСТЕМЫ
--
биочипы
--
микроробот
--
ДЕФИБРИЛЯТОР
--
ИСКУССТВЕННОЕ сердце
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Чаплыгин, Ю.А. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
16.
620.18
М98
Мюллер, Э.
Автоионная
микроскопия
(принципы и применение) [Текст] : пер. с англ. / Э. Мюллер, Т. Цонь; Ред. Л.П. Потапов. - М. : Металлургия, 1972. - 360 с. : ил. - Библиогр.: с. 354-360. - (в пер.) : 2.54 р.
ГРНТИ
29.35.43
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
ПРИНЦИПЫ
--
ИСПАРЕНИЕ
--
ПОЛЕМ
--
УСТРОЙСТВО
--
МИКРОСКОП
--
ТЕХНИКА
--
НАБЛЮДЕНИЯ
--
РЕГИСТРАЦИЯ
--
ИЗОБРАЖЕНИЯ
--
ИНТЕРПРЕТАЦИЯ
--
ПРИМЕНЕНИЕ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Цонь, Т.; Потапов, Л.П. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
17.
620.18
М54
Металлография сплавов железа.
Справочник [Текст] : пер. с немец. / Ред. М.Л. Бернштейн. - М. : Металлургия, 1985. - 248 с. : ил. - Предм. указ.: с. 248. - (в пер.) : 2.40 р.
ГРНТИ
53.49.13
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
СПОСОБЫ
--
АНАЛИЗА
--
ПРИГОТОВЛЕНИЕ
--
ОБРАЗЦОВ
--
ИЗГОТОВЛЕНИЕ
--
ШЛИФОВ
--
ЭЛЕКТРОННАЯ
МИКРОСКОПИЯ
--
ИССЛЕДОВАНИЕ
--
ПОВЕРХНОСТИ
--
СВАРНЫЕ СОЕДИНЕНИЯ
--
ШВЫ
--
МЕТАЛЛУРГИЯ
--
СВАРКА СТАЛЕЙ
--
ФОРМИРОВАНИЕ
--
СТРУКТУРЫ
--
ФОТОГРАФИИ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Бернштейн, М.Л. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
18.
620.18
З-38
Захарова, М. И.
Атомнокристаллическая структура и свойства металлов и сплавов [Текст] : учеб. пособие для вузов / М.И. Захарова. - М. : МГУ, 1972. - 216 с. : граф., схем, фото, рис. - Библиогр.: с. 204-213. - (в пер.) : 0.62 р.
ГРНТИ
53.49
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
ФАЗОВЫЕ ПРЕВРАЩЕНИЯ
--
ПЛАСТИЧЕСКАЯ ДЕФОРМАЦИЯ
--
КРИСТАЛЛОВ
--
УПРУГАЯ
--
ПОЛИГОНИЗАЦИЯ
--
ДВОЙНИКОВАНИЕ
--
РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИЯ
--
синодальный РАСПАД
--
ПЕРЕСЫЩЕННЫЕ
--
ТВЕРДЫЕ РАСТВОРЫ
--
высококоэрцитивные
--
СВЕРХПРОВОДНИКИ
--
ЭЛЕКТРОННАЯ
МИКРОСКОПИЯ
--
РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ
--
МОНОКРИСТАЛЛОВ
--
ТЕОРИЯ РАссеяния
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Свободных экз. нет
Найти похожие
19.
620.18
Л72
Лозинский, М. Г.
Тепловая
микроскопия
материалов [Текст] : научное издание / М.Г. Лозинский. - М. : Металлургия, 1976. - 303 с. : ил. - Библиогр.: с. 297-301. -Предм. указ.: с. 302-303. - (в пер.) : 2.24 р.
ГРНТИ
53.49.13
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
ТВЕРДЫЕ ТЕЛА
--
ТЕХНИЧЕСКИЕ СРЕДСТВА
--
МЕТОДЫ
--
АППАРАТУРА
--
ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОЕ
--
МИКРОСТРУКТУРНОЕ
--
ИССЛЕДОВАНИЕ
--
ВОЛОКНИСТЫЕ
--
СЛОИСТЫЕ
--
УГЛЕМЕТАЛЛОПЛАСТИКИ
--
ФИЗИЧЕСКИЕ
--
МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ
--
ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Свободных экз. нет
Найти похожие
20.
620.18
Б90
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников и металлов [Текст] : учеб. пособие для вузов / В.Т. Бублик, А.Н. Дубровина. - М. : Металлургия, 1978. - 272 с. : граф., рис., табл., фото. - Библиогр. в конце глав. Предм. указ.: с. 272. - (в пер.) : 0.95 р.
ГРНТИ
53.49
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
СВЕТОВАЯ
--
РЕНТГЕНОВСКИЕ
--
ДИФРАКЦИОННЫЕ
--
МЕТОДЫ
--
РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ
--
НЕЙТРОНография
--
ЭЛЕКТРОННАЯ
МИКРОСКОПИЯ
--
ОПТИЧЕСКИЕ
--
ЭЛЕКТРОНОГРАфические
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Дубровина, А.Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие
1..20
21..40
41..47