Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска

Базы данных:

Сводный каталог НТЛ по Ярославской области

Электронный каталог выпускных квалификационных работ

Виды поиска:

Поиск в найденном

Найдено в других БД:

"Руконт"-Национальный цифровой ресурс (1)

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=ДИФРАКЦИОННЫй<.>)
Общее количество найденных документов : 3 Показаны документы с 1 по 3

1..3

620.22
Б87

Брандон, Д
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие для вузов: Пер. с англ. / Д Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р.
Приложения: с. 363-375

ГРНТИ	81.09.03
УДК	620.22

Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА -- ПАРАМЕТРЫ -- ИЗОБРАЖЕНИЕ -- Оже - электронов -- рентгеновский АНАЛИЗ -- КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ -- ДИФРАКЦИОННЫй -- РАССЕЯНИЕ излучения -- СТРУКТУРА -- ЭЛЕКТРОННАЯ -- ДИСЛОКАЦИИ -- РЕШЕТКА -- ТОЧЕЧНАЯ -- ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ -- ЯЧЕЙКИ -- ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы -- ИНДЕКСЫ Миллера -- ЕДИНИЧНыЕ векторы -- СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ -- ПРОЕКЦИИ -- ПОСТРОЕНИЕ -- ЦЕМЕНТИТ -- РАССЕЯНИЕ излучения -- УРАВНЕНИЕ Лауэ -- Брэгга -- ДИАГРАММЫ Кукучи -- ОБРАТНОЕ пространство -- ПОРОШКОВАЯ -- ПОЛИКРИСТАЛЛическая -- МОНОКРИСТАЛЛЫ -- АТОМНОЕ -- СТРУКТУРНЫЙ -- КОЭФФИЦИЕНТ -- ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов -- МНОГОСЛОЙНЫЕ -- нанопокрытие -- ОПТИЧЕСКая -- ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА -- КОНСТРУКЦИЯ -- МЕТОД фазового контраста -- дифференциально - интерференционного -- темного поля -- многолучевой интерференции -- катодолюминисценция -- НАПЫЛЕНИЕ покрытия -- ФРАКТОГРАФИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ параллакса -- МИКРОАНАЛИЗ -- ХИМИЧЕСКИЙ -- поверхности -- ФОТОЭЛЕКТРОННая -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- ИОННАЯ -- масс - спектрометрия -- калибровка -- стереология -- ИЗОТРОПИЯ -- АНИЗОТРОПИЯ -- гомогенность -- ГЕТЕРОГЕННОСТЬ -- межплоскостные углы -- гексагональная -- ИССЛЕДОВАНИЯ -- поляризованный свет -- ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ -- ЛАЗЕРНЫЙ -- СКАНИРующий -- МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ -- МИКРОСКОПИЯ -- КЕРАМИКА

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие

620.179
Ш61

Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии [Текст] : пер. с нем. / Г. Шиммель; Ред. В.Н. Рожанский. - М. : Мир, 1972. - 300 с. : рис., схем, табл., фото. - Библиогр.: с. 285-292. Имен. указ.: с. 293. Предм. указ.: с. 294-297. - (в пер.) : 1.62 р.

ГРНТИ	81.09.81
УДК	620.179

Кл.слова (ненормированные):
ДИФРАКЦИЯ -- УРАВНЕНИЕ БРЭГГА -- РАСЧЕТ -- ЭЛЕКТРОНОГРАММ -- ДИФРАКЦИОННЫЙ -- КОНТРАСТ -- РЕПЛИКА -- СВЕТОВАЯ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Рожанский, В.Н. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

621
Г61

Головин, Ю. И.
Введение в нанотехнику [Текст] : научное издание / Ю.И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 494 с. : рис., табл., граф., фото. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-217-03378-2 (в пер.) : 495.00 р.

ГРНТИ	55
УДК	621

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ -- КВАНТОВЫЕ -- ДИФРАКЦИОННЫЙ -- АНАЛИЗ -- СПЕКТРАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ -- ЗОНДОВЫЕ -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- СКАНИРУЮЩАЯ -- АТОМНО - СИЛОВАЯ -- ЭЛЕКТРОСИЛОВАЯ -- МАГНИТНО - СИЛОВАЯ -- НАНОТЕСТИНГ -- НАНОЛИТОГРАФИЯ -- СИЛОВОЙ -- НАНОИНДЕНТИРОВАНИЕ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- НАНОПОРОШКИ -- НАНОЧАСТИЦЫ -- НАНОТРУБКИ -- ФУЛЛЕРЕНЫ -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОПРИБОРЫ -- НАНОМАШИНЫ -- НАНОСИСТЕМЫ -- НАНОТРИБОЛОГИЯ -- ТРЕНИЕ -- ИЗНОС -- СЕНСОРЫ -- АКТУАТОРЫ -- МЕДИЦИНСКАЯ -- МЭМС -- НАНОБИОТЕХНОЛОГИЯ -- ГЕННАЯ ИНЖЕНЕРИЯ -- МИЦЕЛЛЫ -- РОТАКСАНЫ -- КАТЕНАНЫ -- НАНОРЕВОЛЮЦИЯ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Свободных экз. нет
Найти похожие

1..3