Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска

Базы данных:

Сводный каталог НТЛ по Ярославской области

Электронный каталог выпускных квалификационных работ

Виды поиска:

Поиск в найденном

Найдено в других БД:

"Руконт"-Национальный цифровой ресурс (17)

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОСКОПИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 47 Показаны документы с 1 по 20

1..20 21..40 41..47

В379.2я73
Р94

Рыков, Сергей Александрович.
Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учебное пособие для вузов / С. А. Рыков ; Под общ. ред. В. И. Ильина, А. Я. Шика;Мин-во образования РФ. - СПб. : Наука, 2001. - 53с. - ISBN 5-02-024956-4 : 10.00 р.

ББК В379.2я73
Рубрики: электронная техника
физика полупроводников
Кл.слова (ненормированные):
учебник З233 Ю959 -- учебник В379.2 -- диагностика полупроводниковых материалов -- наноструктуры

Держатели документа:
ЯрГУ ЯрГУ/НА/НБ
Свободных экз. нет
Найти похожие

22.338.4
П 16

Пантелеев, В. Г.
Компьютерная микроскопия [Текст] / В. Пантелеев, О. Егорова, Е. Клыкова. - Москва : Техносфера, 2005. - 303 с. : ил ; 22 см. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. [302]-303. - 2000 экз. - ISBN 5-94836-025-3 : 390 р.

ББК 22.338.4
Рубрики: Микроскопы электронные
Кл.слова (ненормированные):
Анализаторы изображений -- Компьютерная микроскопия

Держатели документа:
ЯОУНБ

Доп.точки доступа:
Егорова, О. В. ; Клыкова, Е. И. ЯОУНБ/пто
Свободных экз. нет
Найти похожие

577.1+577.3
С 42

Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров [Текст]. - М. : Науч.мир, 1997. - 87с. - (Сканирующая зондовая микроскопия.Вып.1). - Библиогр.:с.82. - ISBN 5-89176-031-2 : Б. ц.

УДК

577.1+577.3

Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие

620.18
М 64

Миронов, В.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для старших курсов вузов / В. Миронов. - М. : Техносфера, 2005. - 443 с. - (Мир физики и техники). - Библиогр. : с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 : 225-00 р.

УДК

620.18

Рубрики: Испытания материалов--саканирующая зондовая микроструктура
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая микроскопия

Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие

УДК

577.1+577.3

Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие

УДК

620.18

621.357
К56

Ковенский, И. М.
Испытания гальванических покрытий [Текст] : справочное издание / И.М. Ковенский, В.В. Поветкин. - М. : "Интермет Инжиниринг", 2001. - 136 с. : ил. - Библиогр.: с.134-135 . - ISBN 5-89594-061-7 (в пер.) : 198.00 р.

ГРНТИ	53.49
УДК	621.357	620.178

Кл.слова (ненормированные):
МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ -- твердость -- прочность -- внутренние напряжения -- вязкость разрушения -- трещиностойкость -- адгезионная -- жаростойкость -- паяемость -- испытания -- коррозионная стойкость -- пористость -- покрытий -- микроскопические -- методы исследования -- световая -- микроскопия -- автоионная -- растровая -- электронная -- рентгеноспектральный -- микроанализ -- анализ -- спектроскопия -- резонансные -- методы исследования -- ядерный -- гамма-резонанс -- эффект Мессбауэра -- аннигиляция позитронов

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Поветкин, В.В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

620.19
К43

Кирсанов, В. В.
Процессы радиационного дефектообразования в металлах [Текст] : к самостоятельной работе / В.В. Кирсанов, А.Л. Суворов, Ю.В. Трушин. - М. : Энергоатомиздат, 1985. - 272 с. : граф., схем, табл., фото. - Библиогр.: с.264-270. - (в пер.) : 3.50 р.

ГРНТИ	30.19.29
УДК	620.19

Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛЫ -- ОБЛУЧЕНИЕ -- КЛАССИФИКАЦИЯ -- СТРУКТУРА -- МИКРОСКОПИЯ -- АВТОЭМИССИОННАЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ -- МИКРОЗОНДОВЫЕ -- АНАЛИЗЫ -- ТОЧЕЧНЫЕ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ -- ЭФФЕКТЫ -- ДИНАМИЧЕСКИЕ -- РАСЧЕТ -- КАСКАДНЫЕ -- ФУНКЦИИ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Суворов, А.Л.; Трушин, Ю.В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

620.22
Д50

Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении [Текст] : пер. с англ. / Ред. С. Амелинкс, Р. Геверс, Дж. Ван Ландё. - М. : Металлургия, 1984. - 503 с. : граф., рис., фото. - Библиогр.: с. 500-502. - (в пер.) : 6.20 р.

ГРНТИ	81.09
УДК	620.22

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- рентгенография -- нейронография -- медленных электронов -- автоионная микроскопия -- метод слабых пучков -- идентификация -- малых кластеров -- фазовые превращения -- мартенситные -- кикучи-линии -- рентгеновская топография

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Амелинкс, С. \ред.\; Геверс, Р. \.\; Ван Ландё, Дж. \.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

10.

620.22
Б87

Брандон, Д
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие для вузов: Пер. с англ. / Д Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р.
Приложения: с. 363-375

ГРНТИ	81.09.03
УДК	620.22

Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА -- ПАРАМЕТРЫ -- ИЗОБРАЖЕНИЕ -- Оже - электронов -- рентгеновский АНАЛИЗ -- КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ -- ДИФРАКЦИОННЫй -- РАССЕЯНИЕ излучения -- СТРУКТУРА -- ЭЛЕКТРОННАЯ -- ДИСЛОКАЦИИ -- РЕШЕТКА -- ТОЧЕЧНАЯ -- ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ -- ЯЧЕЙКИ -- ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы -- ИНДЕКСЫ Миллера -- ЕДИНИЧНыЕ векторы -- СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ -- ПРОЕКЦИИ -- ПОСТРОЕНИЕ -- ЦЕМЕНТИТ -- РАССЕЯНИЕ излучения -- УРАВНЕНИЕ Лауэ -- Брэгга -- ДИАГРАММЫ Кукучи -- ОБРАТНОЕ пространство -- ПОРОШКОВАЯ -- ПОЛИКРИСТАЛЛическая -- МОНОКРИСТАЛЛЫ -- АТОМНОЕ -- СТРУКТУРНЫЙ -- КОЭФФИЦИЕНТ -- ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов -- МНОГОСЛОЙНЫЕ -- нанопокрытие -- ОПТИЧЕСКая -- ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА -- КОНСТРУКЦИЯ -- МЕТОД фазового контраста -- дифференциально - интерференционного -- темного поля -- многолучевой интерференции -- катодолюминисценция -- НАПЫЛЕНИЕ покрытия -- ФРАКТОГРАФИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ параллакса -- МИКРОАНАЛИЗ -- ХИМИЧЕСКИЙ -- поверхности -- ФОТОЭЛЕКТРОННая -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- ИОННАЯ -- масс - спектрометрия -- калибровка -- стереология -- ИЗОТРОПИЯ -- АНИЗОТРОПИЯ -- гомогенность -- ГЕТЕРОГЕННОСТЬ -- межплоскостные углы -- гексагональная -- ИССЛЕДОВАНИЯ -- поляризованный свет -- ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ -- ЛАЗЕРНЫЙ -- СКАНИРующий -- МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ -- МИКРОСКОПИЯ -- КЕРАМИКА

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие

11.

620.18
Э62

Энгель, Л.
Растровая электронная микроскопия. Разрушение: Справочник [Текст] : пер. с нем. / Л. Энгель, Г. Клингеле; Ред. М.Л. Бернштейн. - М. : Металлургия, 1986. - 232 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 224. -Предм. указ.: с.225-231. - 1.60 р.
Приложения: с. 221-223

ГРНТИ	30.19.29
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
СТРОЕНИЕ -- МЕТАЛЛОВ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА -- ПЛАСТИЧЕСКАЯ ДЕФОРМАЦИЯ -- МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ -- рентгеновский -- ВОЗБУЖДЕНИЕ -- ЛУЧОМ -- ЭНЕРГОдисперсионный -- ДИФРАКЦИОННО - дисперсионный -- микроРЕНТГЕНОВСКИЙ -- Оже - СПЕКТРОСКОПИЯ -- образование ДЕФЕКТов -- ПОВЕРХНОСТИ -- МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОГО -- ПРОИСХОЖДЕНИЯ -- механические ИЗЛОМы -- ВЯЗКий -- ХРУПКОЕ -- УСТАЛОСТНЫЕ -- ТРЕЩИНЫ -- ВОДОРОДА -- ударный ИЗНОС -- ЭРОЗИОННыЙ -- КОНТАКТНЫЕ -- ФРЕТТИНГ - коррозия -- КАВИТАЦИОННЫЙ -- ОПЛАВЛЕНИЕ -- ГАЗОВАЯ -- ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКАЯ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Клингеле, Г.; Бернштейн, М.Л. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

12.

620.18
Т56

Томас, Г.
Электронная микроскопия металлов. Прямое исследование металлов в просвечивающем электронном микроскопе [Текст] : пер. с англ. / Г. Томас; Ред. Л.М. Утевский. - М. : Иностранная литература, 1963. - 352 с. : граф., фото, рис. - Библиогр. в конце глав. - (в пер.) : 1.68 р.
Приложения: с.325-347

ГРНТИ	29.35.43
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
ЯВЛЕНИе рассеяния -- ВОЛНОВАЯ природа электронов -- резерфордовское -- ЗАКОН Брэгга -- УРАВНЕНИЯ Лауэ -- ОБРАТНОЕ ПРОСТРАНСТВО -- микроДИФРАКЦИЯ -- ЛИНИИ Кикучи -- преломление -- ИЗОБРАЖЕНИЕ кристаллов -- КИНЕМАТИЧЕСКая -- ТЕОРИЯ дифракционного контраста -- АБСОРБЦИЯ -- ПУШКа -- КОНДЕНСорные линзы -- ТЕХНИКА киносъемки -- ПОДГОТОВКА образцов -- КОПИРОВАНИЕ рельефа репликами -- ФРАКТОГРАФИЯ -- МЕТОД тонких фольг -- НАБЛЮДЕНИЕ радиационных нарушений -- РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИЯ -- ПРЕВРАЩЕНИЙ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Утевский, Л.М. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

13.

620.18
С56

Современная электронная микроскопия в исследовании вещества [Текст] : сборник научных трудов / Ред. Б.Б. Звягин ; АН СССР. - М. : Наука , 1982. - 286 с. : граф., фото, рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - 2.10 р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
СКАНИРУЮЩая -- МЕТОДЫ -- НАБЛЮДЕНИя роста -- ТОНКИХ пленок -- КРИСТАЛЛИЗАЦИИ -- ДИФРАКЦИЯ электронов -- СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- БИОЛОГИЧЕСКИх -- МАКРОмолекул -- ПОВЕРХНОСТИ -- межзеренные границы -- МЕЖФАЗНыЕ -- гетероэпитаксиальные

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Звягин, Б.Б. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

14.

620.18
С51

Смолмен, Р.
Современная металлография [Текст] : пер. с англ. / Р. Смолмен, К. Ашби; Ред. В.Б. Семикоз . - М. : Атомиздат, 1970. - 208 с. : схем, табл., фото. - Библиогр. в конце глав. - 1.04 р.

ГРНТИ	53.49.19
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
ОПТИЧЕСКАЯ -- МИКРОСКОПИЯ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ -- ПОВЕРХНОСТНАЯ -- ТОПОГРАФИЯ -- ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ -- ПОЛЯРИЗАЦИОННая -- ПОЛЯРИЗОВАННЫЙ СВЕТ -- АНИЗОТРОПИЯ -- ПОВЕРХНОСТЕЙ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ -- МЕТАЛЛОВ -- БЕЛоЕ излучение -- ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКое -- метод Лауэ -- ПОРОШКОВ -- ПРАВИЛО Брэгга-Вульфа -- СТРУКТУРНЫЙ фактор -- ДИФРАКЦИОННая техника -- МИКРОЗОНДОВЫй анализ -- ДИСЛОКАЦИИ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ -- МИКРОСКОП -- ТЕОРИЯ контраста -- АНАЛИЗ электронограмм -- АТОМНЫЕ дефекты -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА -- НЕЙТРОНЫ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Ашби, К.; Семикоз , В.Б. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

15.

621.38
Н25

Нанотехнологии в электронике [Текст] : монография / Ред. Ю.А. Чаплыгин. - М. : Техносфера, 2005. - 448 с. : рис., схем, табл. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-059-8 (в пер.) : 237.50 р.

ГРНТИ	47.13
УДК	621.38

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- УГЛЕРОДНЫХ -- МАТЕРИАЛОВ -- ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- ЗОНДОВАЯ -- фуллерены -- наноструктуры -- нанотрубки -- нанолитография -- ОКИСЛЕНИЕ -- нелитографические -- МЕТОДЫ -- ФОРМИРОВАНИЯ -- ПОВЕРХНОСТНЫХ -- ЛИТОГРАФИЧЕСКИЕ -- ПЛАЗМЕННЫЕ -- САМООРГАНИЗОВАННЫЕ -- ИМПЛАНТИРОВАННЫЕ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВ -- КВАНТОВЫЕ -- ТОЧКИ -- углеситалы -- гетероструктуры -- фотоника -- ОПТИЧЕСКИЕ -- ВОЛОКНА -- СЕНСОРЫ -- нанокомпозиты -- нанокерамики -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЕ -- СВЕРХПРОВОДНИКИ -- ДАТЧИКИ -- наноэлектромеханические -- СИСТЕМЫ -- биочипы -- микроробот -- ДЕФИБРИЛЯТОР -- ИСКУССТВЕННОЕ сердце

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Чаплыгин, Ю.А. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

16.

620.18
М98

Мюллер, Э.
Автоионная микроскопия (принципы и применение) [Текст] : пер. с англ. / Э. Мюллер, Т. Цонь; Ред. Л.П. Потапов. - М. : Металлургия, 1972. - 360 с. : ил. - Библиогр.: с. 354-360. - (в пер.) : 2.54 р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
ПРИНЦИПЫ -- ИСПАРЕНИЕ -- ПОЛЕМ -- УСТРОЙСТВО -- МИКРОСКОП -- ТЕХНИКА -- НАБЛЮДЕНИЯ -- РЕГИСТРАЦИЯ -- ИЗОБРАЖЕНИЯ -- ИНТЕРПРЕТАЦИЯ -- ПРИМЕНЕНИЕ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Цонь, Т.; Потапов, Л.П. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

17.

620.18
М54

Металлография сплавов железа. Справочник [Текст] : пер. с немец. / Ред. М.Л. Бернштейн. - М. : Металлургия, 1985. - 248 с. : ил. - Предм. указ.: с. 248. - (в пер.) : 2.40 р.

ГРНТИ	53.49.13
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
СПОСОБЫ -- АНАЛИЗА -- ПРИГОТОВЛЕНИЕ -- ОБРАЗЦОВ -- ИЗГОТОВЛЕНИЕ -- ШЛИФОВ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ИССЛЕДОВАНИЕ -- ПОВЕРХНОСТИ -- СВАРНЫЕ СОЕДИНЕНИЯ -- ШВЫ -- МЕТАЛЛУРГИЯ -- СВАРКА СТАЛЕЙ -- ФОРМИРОВАНИЕ -- СТРУКТУРЫ -- ФОТОГРАФИИ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Бернштейн, М.Л. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

18.

620.18
З-38

Захарова, М. И.
Атомнокристаллическая структура и свойства металлов и сплавов [Текст] : учеб. пособие для вузов / М.И. Захарова. - М. : МГУ, 1972. - 216 с. : граф., схем, фото, рис. - Библиогр.: с. 204-213. - (в пер.) : 0.62 р.

ГРНТИ	53.49
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
ФАЗОВЫЕ ПРЕВРАЩЕНИЯ -- ПЛАСТИЧЕСКАЯ ДЕФОРМАЦИЯ -- КРИСТАЛЛОВ -- УПРУГАЯ -- ПОЛИГОНИЗАЦИЯ -- ДВОЙНИКОВАНИЕ -- РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИЯ -- синодальный РАСПАД -- ПЕРЕСЫЩЕННЫЕ -- ТВЕРДЫЕ РАСТВОРЫ -- высококоэрцитивные -- СВЕРХПРОВОДНИКИ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ -- МОНОКРИСТАЛЛОВ -- ТЕОРИЯ РАссеяния

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Свободных экз. нет
Найти похожие

19.

620.18
Л72

Лозинский, М. Г.
Тепловая микроскопия материалов [Текст] : научное издание / М.Г. Лозинский. - М. : Металлургия, 1976. - 303 с. : ил. - Библиогр.: с. 297-301. -Предм. указ.: с. 302-303. - (в пер.) : 2.24 р.

ГРНТИ	53.49.13
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
ТВЕРДЫЕ ТЕЛА -- ТЕХНИЧЕСКИЕ СРЕДСТВА -- МЕТОДЫ -- АППАРАТУРА -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОЕ -- МИКРОСТРУКТУРНОЕ -- ИССЛЕДОВАНИЕ -- ВОЛОКНИСТЫЕ -- СЛОИСТЫЕ -- УГЛЕМЕТАЛЛОПЛАСТИКИ -- ФИЗИЧЕСКИЕ -- МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ -- ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Свободных экз. нет
Найти похожие

20.

620.18
Б90

Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников и металлов [Текст] : учеб. пособие для вузов / В.Т. Бублик, А.Н. Дубровина. - М. : Металлургия, 1978. - 272 с. : граф., рис., табл., фото. - Библиогр. в конце глав. Предм. указ.: с. 272. - (в пер.) : 0.95 р.

ГРНТИ	53.49
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
СВЕТОВАЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЕ -- ДИФРАКЦИОННЫЕ -- МЕТОДЫ -- РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- НЕЙТРОНография -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ОПТИЧЕСКИЕ -- ЭЛЕКТРОНОГРАфические

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Дубровина, А.Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

1..20 21..40 41..47