Логин (фамилия): Пароль (штрих-код):

Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска

Базы данных: 
Электронный каталог МУБиНТ, г. ЯрославльЭлектронный каталог МУБиНТ, г. РыбинскЦентр иностранной литературыСводный каталог НТЛ по Ярославской области"Руконт"-Национальный цифровой ресурсЭлектронный каталог выпускных квалификационных работ

Виды поиска: 
Стандартный Расширенный По словарю

Поиск в найденном
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ФОТОЭЛЕКТРОННая<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
 1..5 
1.
541.2:530.14(07)
Г 72


    Гостикин,, В. П.
    Молекулярная и фотоэлектронная спектроскопия [Текст] : учеб. пособие для вузов по спец. "Хим. технология" / В. П. Гостикин,. - Иваново : [б. и.], 2002. - 144 с. - ISBN 5-230-01529-2 : Б. ц.
УДК
Рубрики: Спектроскопия--Молекулярная
    --Фотоэлектронная


Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие

2.
541.2:530.14(07)
Г 72


    Гостикин,, В. П.
    Молекулярная и фотоэлектронная спектроскопия [Текст] : учеб. пособие для вузов по спец. "Хим. технология" / В. П. Гостикин,. - Иваново : [б. и.], 2002. - 144 с. - ISBN 5-230-01529-2 : Б. ц.
УДК
Рубрики: Спектроскопия--Молекулярная
    --Фотоэлектронная


Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие

3.
620.22
Б87


    Брандон, Д
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие для вузов: Пер. с англ. / Д Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р.
Приложения: с. 363-375
ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА -- ПАРАМЕТРЫ -- ИЗОБРАЖЕНИЕ -- Оже - электронов -- рентгеновский АНАЛИЗ -- КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ -- ДИФРАКЦИОННЫй -- РАССЕЯНИЕ излучения -- СТРУКТУРА -- ЭЛЕКТРОННАЯ -- ДИСЛОКАЦИИ -- РЕШЕТКА -- ТОЧЕЧНАЯ -- ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ -- ЯЧЕЙКИ -- ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы -- ИНДЕКСЫ Миллера -- ЕДИНИЧНыЕ векторы -- СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ -- ПРОЕКЦИИ -- ПОСТРОЕНИЕ -- ЦЕМЕНТИТ -- РАССЕЯНИЕ излучения -- УРАВНЕНИЕ Лауэ -- Брэгга -- ДИАГРАММЫ Кукучи -- ОБРАТНОЕ пространство -- ПОРОШКОВАЯ -- ПОЛИКРИСТАЛЛическая -- МОНОКРИСТАЛЛЫ -- АТОМНОЕ -- СТРУКТУРНЫЙ -- КОЭФФИЦИЕНТ -- ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов -- МНОГОСЛОЙНЫЕ -- нанопокрытие -- ОПТИЧЕСКая -- ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА -- КОНСТРУКЦИЯ  -- МЕТОД фазового контраста -- дифференциально - интерференционного  -- темного поля -- многолучевой интерференции -- катодолюминисценция -- НАПЫЛЕНИЕ покрытия -- ФРАКТОГРАФИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ параллакса -- МИКРОАНАЛИЗ -- ХИМИЧЕСКИЙ -- поверхности -- ФОТОЭЛЕКТРОННая -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- ИОННАЯ -- масс - спектрометрия -- калибровка -- стереология -- ИЗОТРОПИЯ -- АНИЗОТРОПИЯ -- гомогенность -- ГЕТЕРОГЕННОСТЬ -- межплоскостные углы -- гексагональная -- ИССЛЕДОВАНИЯ -- поляризованный свет -- ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ -- ЛАЗЕРНЫЙ -- СКАНИРующий  -- МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ -- МИКРОСКОПИЯ -- КЕРАМИКА

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие

4.
669.01
К56


    Ковалев, А. И.
    Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов [Текст] : научное издание / А.И. Ковалев, Г.В. Щербединский. - М. : Металлургия, 1989. - 191 с. : рис., табл., фото. - Библиогр.: с. 182-191. - ISBN 5-229-00444-4 : 2.40 р.
Приложения: с. 129-182
ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
РАСТРОВАЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ -- МИКРОАНАЛИЗ -- ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- ОЖЕ - спектроскопия -- ПОТЕРИ ЭНЕРГИИ -- МАСС - спектроскопия -- ЛАЗЕРНЫЙ -- МИКРОЗОНДОВЫЙ АНАЛИЗ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Щербединский, Г.В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

5.
669.01
И32


   
    Избранные методы исследования в металловедении [Текст] : пер. с нем. / Ред. Г.-Й Хунгер. - М. : Металлургия, 1985. - 416 с. : граф., рис., табл., фото. - Библиогр.: с. 407-414. Предм. указ.: с. 415-416. - (в пер.) : 4.00 р.
ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
ВЗАИМОСВЯЗЬ -- СТРУКТУРЫ -- СВОЙСТВ -- МАТЕРИАЛА -- ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИЕ -- КОЛИЧЕСТВЕННАЯ -- МЕТАЛЛОГРАФИЯ -- КАЛОРИМЕТРИЧЕСКИЕ -- КОНСТАНТЫ -- РАВНОВЕСИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ -- ДИФРАКЦИЯ -- НЕЙТРОНОВ -- ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ -- МИКРОСКОПИЯ -- МАСС - СПЕКТРОМЕТРИЯ -- ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- ОЖЕ - ЭЛЕКТРОННАЯ -- АННИГИЛЯЦИЯ ПОЗИТРОНОВ -- МЕССБАУЭРОВСКАЯ -- ЭФФЕКТ МЕССБАУЭРА

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Хунгер, Г.-Й \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

 1..5