Логин (фамилия): Пароль (штрих-код):

Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска

Базы данных: 
Электронный каталог МУБиНТ, г. ЯрославльЭлектронный каталог МУБиНТ, г. РыбинскЦентр иностранной литературыСводный каталог НТЛ по Ярославской области"Руконт"-Национальный цифровой ресурсЭлектронный каталог выпускных квалификационных работ

Виды поиска: 
Стандартный Расширенный По словарю
Поиск в найденном
Поисковый запрос: (<.>K=метод слабых пучков<.>)
Общее количество найденных документов : 1
 1..1 
1.
620.22
Д50

   
    Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении [Текст] : пер. с англ. / Ред. С. Амелинкс, Р. Геверс, Дж. Ван Ландё. - М. : Металлургия, 1984. - 503 с. : граф., рис., фото. - Библиогр.: с. 500-502. - (в пер.) : 6.20 р.
ГРНТИ
81.09
УДК
620.22

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- рентгенография -- нейронография -- медленных электронов -- автоионная микроскопия -- метод слабых пучков -- идентификация -- малых кластеров -- фазовые превращения -- мартенситные -- кикучи-линии -- рентгеновская топография

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Амелинкс, С. \ред.\; Геверс, Р. \.\; Ван Ландё, Дж. \.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
 1..1