Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска

Базы данных:

Сводный каталог НТЛ по Ярославской области

Электронный каталог выпускных квалификационных работ

Виды поиска:

Поиск в найденном

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=поляризованный свет<.>)
Общее количество найденных документов : 2 Показаны документы с 1 по 2

1..2

620.22
Б87

Брандон, Д
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие для вузов: Пер. с англ. / Д Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р.
Приложения: с. 363-375

ГРНТИ	81.09.03
УДК	620.22

Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА -- ПАРАМЕТРЫ -- ИЗОБРАЖЕНИЕ -- Оже - электронов -- рентгеновский АНАЛИЗ -- КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ -- ДИФРАКЦИОННЫй -- РАССЕЯНИЕ излучения -- СТРУКТУРА -- ЭЛЕКТРОННАЯ -- ДИСЛОКАЦИИ -- РЕШЕТКА -- ТОЧЕЧНАЯ -- ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ -- ЯЧЕЙКИ -- ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы -- ИНДЕКСЫ Миллера -- ЕДИНИЧНыЕ векторы -- СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ -- ПРОЕКЦИИ -- ПОСТРОЕНИЕ -- ЦЕМЕНТИТ -- РАССЕЯНИЕ излучения -- УРАВНЕНИЕ Лауэ -- Брэгга -- ДИАГРАММЫ Кукучи -- ОБРАТНОЕ пространство -- ПОРОШКОВАЯ -- ПОЛИКРИСТАЛЛическая -- МОНОКРИСТАЛЛЫ -- АТОМНОЕ -- СТРУКТУРНЫЙ -- КОЭФФИЦИЕНТ -- ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов -- МНОГОСЛОЙНЫЕ -- нанопокрытие -- ОПТИЧЕСКая -- ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА -- КОНСТРУКЦИЯ -- МЕТОД фазового контраста -- дифференциально - интерференционного -- темного поля -- многолучевой интерференции -- катодолюминисценция -- НАПЫЛЕНИЕ покрытия -- ФРАКТОГРАФИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ параллакса -- МИКРОАНАЛИЗ -- ХИМИЧЕСКИЙ -- поверхности -- ФОТОЭЛЕКТРОННая -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- ИОННАЯ -- масс - спектрометрия -- калибровка -- стереология -- ИЗОТРОПИЯ -- АНИЗОТРОПИЯ -- гомогенность -- ГЕТЕРОГЕННОСТЬ -- межплоскостные углы -- гексагональная -- ИССЛЕДОВАНИЯ -- поляризованный свет -- ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ -- ЛАЗЕРНЫЙ -- СКАНИРующий -- МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ -- МИКРОСКОПИЯ -- КЕРАМИКА

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие

620.18
С51

Смолмен, Р.
Современная металлография [Текст] : пер. с англ. / Р. Смолмен, К. Ашби; Ред. В.Б. Семикоз . - М. : Атомиздат, 1970. - 208 с. : схем, табл., фото. - Библиогр. в конце глав. - 1.04 р.

ГРНТИ	53.49.19
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
ОПТИЧЕСКАЯ -- МИКРОСКОПИЯ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ -- ПОВЕРХНОСТНАЯ -- ТОПОГРАФИЯ -- ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ -- ПОЛЯРИЗАЦИОННая -- ПОЛЯРИЗОВАННЫЙ СВЕТ -- АНИЗОТРОПИЯ -- ПОВЕРХНОСТЕЙ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ -- МЕТАЛЛОВ -- БЕЛоЕ излучение -- ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКое -- метод Лауэ -- ПОРОШКОВ -- ПРАВИЛО Брэгга-Вульфа -- СТРУКТУРНЫЙ фактор -- ДИФРАКЦИОННая техника -- МИКРОЗОНДОВЫй анализ -- ДИСЛОКАЦИИ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ -- МИКРОСКОП -- ТЕОРИЯ контраста -- АНАЛИЗ электронограмм -- АТОМНЫЕ дефекты -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА -- НЕЙТРОНЫ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Ашби, К.; Семикоз , В.Б. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

1..2