Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска

Базы данных:

Сводный каталог НТЛ по Ярославской области

Электронный каталог выпускных квалификационных работ

Виды поиска:

Поиск в найденном

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=ОБРАТНОЕ пространство<.>)
Общее количество найденных документов : 2 Показаны документы с 1 по 2

1..2

620.22
Б87

Брандон, Д
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие для вузов: Пер. с англ. / Д Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р.
Приложения: с. 363-375

ГРНТИ	81.09.03
УДК	620.22

Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА -- ПАРАМЕТРЫ -- ИЗОБРАЖЕНИЕ -- Оже - электронов -- рентгеновский АНАЛИЗ -- КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ -- ДИФРАКЦИОННЫй -- РАССЕЯНИЕ излучения -- СТРУКТУРА -- ЭЛЕКТРОННАЯ -- ДИСЛОКАЦИИ -- РЕШЕТКА -- ТОЧЕЧНАЯ -- ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ -- ЯЧЕЙКИ -- ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы -- ИНДЕКСЫ Миллера -- ЕДИНИЧНыЕ векторы -- СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ -- ПРОЕКЦИИ -- ПОСТРОЕНИЕ -- ЦЕМЕНТИТ -- РАССЕЯНИЕ излучения -- УРАВНЕНИЕ Лауэ -- Брэгга -- ДИАГРАММЫ Кукучи -- ОБРАТНОЕ пространство -- ПОРОШКОВАЯ -- ПОЛИКРИСТАЛЛическая -- МОНОКРИСТАЛЛЫ -- АТОМНОЕ -- СТРУКТУРНЫЙ -- КОЭФФИЦИЕНТ -- ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов -- МНОГОСЛОЙНЫЕ -- нанопокрытие -- ОПТИЧЕСКая -- ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА -- КОНСТРУКЦИЯ -- МЕТОД фазового контраста -- дифференциально - интерференционного -- темного поля -- многолучевой интерференции -- катодолюминисценция -- НАПЫЛЕНИЕ покрытия -- ФРАКТОГРАФИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ параллакса -- МИКРОАНАЛИЗ -- ХИМИЧЕСКИЙ -- поверхности -- ФОТОЭЛЕКТРОННая -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- ИОННАЯ -- масс - спектрометрия -- калибровка -- стереология -- ИЗОТРОПИЯ -- АНИЗОТРОПИЯ -- гомогенность -- ГЕТЕРОГЕННОСТЬ -- межплоскостные углы -- гексагональная -- ИССЛЕДОВАНИЯ -- поляризованный свет -- ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ -- ЛАЗЕРНЫЙ -- СКАНИРующий -- МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ -- МИКРОСКОПИЯ -- КЕРАМИКА

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие

620.18
Т56

Томас, Г.
Электронная микроскопия металлов. Прямое исследование металлов в просвечивающем электронном микроскопе [Текст] : пер. с англ. / Г. Томас; Ред. Л.М. Утевский. - М. : Иностранная литература, 1963. - 352 с. : граф., фото, рис. - Библиогр. в конце глав. - (в пер.) : 1.68 р.
Приложения: с.325-347

ГРНТИ	29.35.43
УДК	620.18

Кл.слова (ненормированные):
ЯВЛЕНИе рассеяния -- ВОЛНОВАЯ природа электронов -- резерфордовское -- ЗАКОН Брэгга -- УРАВНЕНИЯ Лауэ -- ОБРАТНОЕ ПРОСТРАНСТВО -- микроДИФРАКЦИЯ -- ЛИНИИ Кикучи -- преломление -- ИЗОБРАЖЕНИЕ кристаллов -- КИНЕМАТИЧЕСКая -- ТЕОРИЯ дифракционного контраста -- АБСОРБЦИЯ -- ПУШКа -- КОНДЕНСорные линзы -- ТЕХНИКА киносъемки -- ПОДГОТОВКА образцов -- КОПИРОВАНИЕ рельефа репликами -- ФРАКТОГРАФИЯ -- МЕТОД тонких фольг -- НАБЛЮДЕНИЕ радиационных нарушений -- РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИЯ -- ПРЕВРАЩЕНИЙ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Утевский, Л.М. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

1..2