Логин
(фамилия)
:
Пароль
(штрих-код)
:
Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска
Базы данных:
Электронный каталог МУБиНТ, г. Ярославль
Электронный каталог МУБиНТ, г. Рыбинск
Центр иностранной литературы
Сводный каталог НТЛ по Ярославской области
"Руконт"-Национальный цифровой ресурс
Электронный каталог выпускных квалификационных работ
Виды поиска:
Стандартный
Расширенный
По словарю
Поиск в найденном
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>K=Брэгга<.>)
Общее количество найденных документов
:
5
Показаны документы
с 1 по 5
1..5
1.
51.204
Формула совершенства
[Текст] : чудо голодания ; Сердце ; Построение мощной нервной силы ; Ваши волосы и ваше здоровье / П.С.Брэг ; Улучшение зрения по системе
Брэгга
/ Патриция Брэгг. - СПб. : Лейла, 1993. - 384 с. -
ISBN
5-85871-006-9 : Б. ц.
На обл.авт.:П.С.Брэгг
ББК
51.204
Рубрики:
15.Медицина.
Кл.слова (ненормированные):
Чудо голодания.Ваши волосы и ваше здоровье/Брэгг П.С.Улучшаем зрение по системе
Брэгга
/Брэгг П.
Держатели документа:
ЯрЦБС
Свободных экз. нет
Найти похожие
2.
620.22
Б87
Брандон, Д
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие для вузов: Пер. с англ. / Д Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. -
ISBN
5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р.
Приложения: с. 363-375
ГРНТИ
81.09.03
УДК
620.22
Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
--
КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
--
ПАРАМЕТРЫ
--
ИЗОБРАЖЕНИЕ
--
Оже - электронов
--
рентгеновский АНАЛИЗ
--
КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ
--
ДИФРАКЦИОННЫй
--
РАССЕЯНИЕ излучения
--
СТРУКТУРА
--
ЭЛЕКТРОННАЯ
--
ДИСЛОКАЦИИ
--
РЕШЕТКА
--
ТОЧЕЧНАЯ
--
ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ
--
ЯЧЕЙКИ
--
ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы
--
ИНДЕКСЫ Миллера
--
ЕДИНИЧНыЕ векторы
--
СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ
--
ПРОЕКЦИИ
--
ПОСТРОЕНИЕ
--
ЦЕМЕНТИТ
--
РАССЕЯНИЕ излучения
--
УРАВНЕНИЕ Лауэ
--
Брэгга
--
ДИАГРАММЫ Кукучи
--
ОБРАТНОЕ пространство
--
ПОРОШКОВАЯ
--
ПОЛИКРИСТАЛЛическая
--
МОНОКРИСТАЛЛЫ
--
АТОМНОЕ
--
СТРУКТУРНЫЙ
--
КОЭФФИЦИЕНТ
--
ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов
--
МНОГОСЛОЙНЫЕ
--
нанопокрытие
--
ОПТИЧЕСКая
--
ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА
--
КОНСТРУКЦИЯ
--
МЕТОД фазового контраста
--
дифференциально - интерференционного
--
темного поля
--
многолучевой интерференции
--
катодолюминисценция
--
НАПЫЛЕНИЕ покрытия
--
ФРАКТОГРАФИЯ
--
ИЗМЕРЕНИЕ параллакса
--
МИКРОАНАЛИЗ
--
ХИМИЧЕСКИЙ
--
поверхности
--
ФОТОЭЛЕКТРОННая
--
СПЕКТРОСКОПИЯ
--
ИОННАЯ
--
масс - спектрометрия
--
калибровка
--
стереология
--
ИЗОТРОПИЯ
--
АНИЗОТРОПИЯ
--
гомогенность
--
ГЕТЕРОГЕННОСТЬ
--
межплоскостные углы
--
гексагональная
--
ИССЛЕДОВАНИЯ
--
поляризованный свет
--
ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ
--
ЛАЗЕРНЫЙ
--
СКАНИРующий
--
МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ
--
МИКРОСКОПИЯ
--
КЕРАМИКА
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие
3.
620.18
Т56
Томас, Г.
Электронная микроскопия металлов. Прямое исследование металлов в просвечивающем электронном микроскопе [Текст] : пер. с англ. / Г. Томас; Ред. Л.М. Утевский. - М. : Иностранная литература, 1963. - 352 с. : граф., фото, рис. - Библиогр. в конце глав. - (в пер.) : 1.68 р.
Приложения: с.325-347
ГРНТИ
29.35.43
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
ЯВЛЕНИе рассеяния
--
ВОЛНОВАЯ природа электронов
--
резерфордовское
--
ЗАКОН
Брэгга
--
УРАВНЕНИЯ Лауэ
--
ОБРАТНОЕ ПРОСТРАНСТВО
--
микроДИФРАКЦИЯ
--
ЛИНИИ Кикучи
--
преломление
--
ИЗОБРАЖЕНИЕ кристаллов
--
КИНЕМАТИЧЕСКая
--
ТЕОРИЯ дифракционного контраста
--
АБСОРБЦИЯ
--
ПУШКа
--
КОНДЕНСорные линзы
--
ТЕХНИКА киносъемки
--
ПОДГОТОВКА образцов
--
КОПИРОВАНИЕ рельефа репликами
--
ФРАКТОГРАФИЯ
--
МЕТОД тонких фольг
--
НАБЛЮДЕНИЕ радиационных нарушений
--
РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИЯ
--
ПРЕВРАЩЕНИЙ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Утевский, Л.М. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
4.
620.18
С51
Смолмен, Р.
Современная металлография [Текст] : пер. с англ. / Р. Смолмен, К. Ашби; Ред. В.Б. Семикоз . - М. : Атомиздат, 1970. - 208 с. : схем, табл., фото. - Библиогр. в конце глав. - 1.04 р.
ГРНТИ
53.49.19
УДК
620.18
Кл.слова (ненормированные):
ОПТИЧЕСКАЯ
--
МИКРОСКОПИЯ
--
ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ
--
ПОВЕРХНОСТНАЯ
--
ТОПОГРАФИЯ
--
ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ
--
ПОЛЯРИЗАЦИОННая
--
ПОЛЯРИЗОВАННЫЙ СВЕТ
--
АНИЗОТРОПИЯ
--
ПОВЕРХНОСТЕЙ
--
РЕНТГЕНОГРАФИЯ
--
МЕТАЛЛОВ
--
БЕЛоЕ излучение
--
ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКое
--
метод Лауэ
--
ПОРОШКОВ
--
ПРАВИЛО
Брэгга
-Вульфа
--
СТРУКТУРНЫЙ фактор
--
ДИФРАКЦИОННая техника
--
МИКРОЗОНДОВЫй анализ
--
ДИСЛОКАЦИИ
--
ЭЛЕКТРОННЫЙ
--
МИКРОСКОП
--
ТЕОРИЯ контраста
--
АНАЛИЗ электронограмм
--
АТОМНЫЕ дефекты
--
КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА
--
НЕЙТРОНЫ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Ашби, К.; Семикоз , В.Б. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
5.
620.179
Ш61
Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии [Текст] : пер. с нем. / Г. Шиммель; Ред. В.Н. Рожанский. - М. : Мир, 1972. - 300 с. : рис., схем, табл., фото. - Библиогр.: с. 285-292. Имен. указ.: с. 293. Предм. указ.: с. 294-297. - (в пер.) : 1.62 р.
ГРНТИ
81.09.81
УДК
620.179
Кл.слова (ненормированные):
ДИФРАКЦИЯ
--
УРАВНЕНИЕ
БРЭГГА
--
РАСЧЕТ
--
ЭЛЕКТРОНОГРАММ
--
ДИФРАКЦИОННЫЙ
--
КОНТРАСТ
--
РЕПЛИКА
--
СВЕТОВАЯ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Рожанский, В.Н. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
1..5