1.
| 620.22 Б87
Брандон, Д Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] !Otitkn.pft: FILE NOT FOUND! . - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р. Приложения: с. 363-375 Кл.слова (ненормированные): КРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА -- ПАРАМЕТРЫ -- ИЗОБРАЖЕНИЕ -- Оже - электронов -- рентгеновский АНАЛИЗ -- КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ -- ДИФРАКЦИОННЫй -- РАССЕЯНИЕ излучения -- СТРУКТУРА -- ЭЛЕКТРОННАЯ -- ДИСЛОКАЦИИ -- РЕШЕТКА -- ТОЧЕЧНАЯ -- ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ -- ЯЧЕЙКИ -- ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы -- ИНДЕКСЫ Миллера -- ЕДИНИЧНыЕ векторы -- СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ -- ПРОЕКЦИИ -- ПОСТРОЕНИЕ -- ЦЕМЕНТИТ -- РАССЕЯНИЕ излучения -- УРАВНЕНИЕ Лауэ -- Брэгга -- ДИАГРАММЫ Кукучи -- ОБРАТНОЕ пространство -- ПОРОШКОВАЯ -- ПОЛИКРИСТАЛЛическая -- МОНОКРИСТАЛЛЫ -- АТОМНОЕ -- СТРУКТУРНЫЙ -- КОЭФФИЦИЕНТ -- ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов -- МНОГОСЛОЙНЫЕ -- нанопокрытие -- ОПТИЧЕСКая -- ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА -- КОНСТРУКЦИЯ -- МЕТОД фазового контраста -- дифференциально - интерференционного -- темного поля -- многолучевой интерференции -- катодолюминисценция -- НАПЫЛЕНИЕ покрытия -- ФРАКТОГРАФИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ параллакса -- МИКРОАНАЛИЗ -- ХИМИЧЕСКИЙ -- поверхности -- ФОТОЭЛЕКТРОННая -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- ИОННАЯ -- масс - спектрометрия -- калибровка -- стереология -- ИЗОТРОПИЯ -- АНИЗОТРОПИЯ -- гомогенность -- ГЕТЕРОГЕННОСТЬ -- межплоскостные углы -- гексагональная -- ИССЛЕДОВАНИЯ -- поляризованный свет -- ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ -- ЛАЗЕРНЫЙ -- СКАНИРующий -- МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ -- МИКРОСКОПИЯ -- КЕРАМИКА
Держатели документа: ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163 Доп.точки доступа: Каплан, У.
Свободных экз. нет Найти похожие
|