1.
| 620.22 Д50
Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении [Текст] : пер. с англ. / Ред. С. Амелинкс, Р. Геверс, Дж. Ван Ландё. - М. : Металлургия, 1984. - 503 с. : граф., рис., фото. - Библиогр.: с. 500-502. - (в пер.) : 6.20 р. Кл.слова (ненормированные): электронная микроскопия -- рентгенография -- нейронография -- медленных электронов -- автоионная микроскопия -- метод слабых пучков -- идентификация -- малых кластеров -- фазовые превращения -- мартенситные -- кикучи-линии -- рентгеновская топография
Держатели документа: ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163 !odfp_W.pft: FILE NOT FOUND!
Свободных экз. нет Найти похожие
|