Логин
(фамилия)
:
Пароль
(штрих-код)
:
Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска
Базы данных:
Электронный каталог МУБиНТ, г. Ярославль
Электронный каталог МУБиНТ, г. Рыбинск
Центр иностранной литературы
Сводный каталог НТЛ по Ярославской области
"Руконт"-Национальный цифровой ресурс
Электронный каталог выпускных квалификационных работ
Виды поиска:
Стандартный
Расширенный
По словарю
Поиск в найденном
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>K=ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ<.>)
Общее количество найденных документов
:
5
Показаны документы
с 1 по 5
1..5
1.
541.2:530.14(07)
Г 72
Гостикин,, В. П.
Молекулярная и
фотоэлектронная
спектроскопия [Текст] : учеб. пособие для вузов по спец. "Хим. технология" / В. П. Гостикин,. - Иваново : [б. и.], 2002. - 144 с. -
ISBN
5-230-01529-2 : Б. ц.
УДК
541.2:530.14(07)
Рубрики:
Спектроскопия--Молекулярная
--
Фотоэлектронная
Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие
2.
541.2:530.14(07)
Г 72
Гостикин,, В. П.
Молекулярная и
фотоэлектронная
спектроскопия [Текст] : учеб. пособие для вузов по спец. "Хим. технология" / В. П. Гостикин,. - Иваново : [б. и.], 2002. - 144 с. -
ISBN
5-230-01529-2 : Б. ц.
УДК
541.2:530.14(07)
Рубрики:
Спектроскопия--Молекулярная
--
Фотоэлектронная
Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Свободных экз. нет
Найти похожие
3.
620.22
Б87
Брандон, Д
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие для вузов: Пер. с англ. / Д Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. -
ISBN
5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р.
Приложения: с. 363-375
ГРНТИ
81.09.03
УДК
620.22
Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
--
КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
--
ПАРАМЕТРЫ
--
ИЗОБРАЖЕНИЕ
--
Оже - электронов
--
рентгеновский АНАЛИЗ
--
КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ
--
ДИФРАКЦИОННЫй
--
РАССЕЯНИЕ излучения
--
СТРУКТУРА
--
ЭЛЕКТРОННАЯ
--
ДИСЛОКАЦИИ
--
РЕШЕТКА
--
ТОЧЕЧНАЯ
--
ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ
--
ЯЧЕЙКИ
--
ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы
--
ИНДЕКСЫ Миллера
--
ЕДИНИЧНыЕ векторы
--
СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ
--
ПРОЕКЦИИ
--
ПОСТРОЕНИЕ
--
ЦЕМЕНТИТ
--
РАССЕЯНИЕ излучения
--
УРАВНЕНИЕ Лауэ
--
Брэгга
--
ДИАГРАММЫ Кукучи
--
ОБРАТНОЕ пространство
--
ПОРОШКОВАЯ
--
ПОЛИКРИСТАЛЛическая
--
МОНОКРИСТАЛЛЫ
--
АТОМНОЕ
--
СТРУКТУРНЫЙ
--
КОЭФФИЦИЕНТ
--
ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов
--
МНОГОСЛОЙНЫЕ
--
нанопокрытие
--
ОПТИЧЕСКая
--
ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА
--
КОНСТРУКЦИЯ
--
МЕТОД фазового контраста
--
дифференциально - интерференционного
--
темного поля
--
многолучевой интерференции
--
катодолюминисценция
--
НАПЫЛЕНИЕ покрытия
--
ФРАКТОГРАФИЯ
--
ИЗМЕРЕНИЕ параллакса
--
МИКРОАНАЛИЗ
--
ХИМИЧЕСКИЙ
--
поверхности
--
ФОТОЭЛЕКТРОННая
--
СПЕКТРОСКОПИЯ
--
ИОННАЯ
--
масс - спектрометрия
--
калибровка
--
стереология
--
ИЗОТРОПИЯ
--
АНИЗОТРОПИЯ
--
гомогенность
--
ГЕТЕРОГЕННОСТЬ
--
межплоскостные углы
--
гексагональная
--
ИССЛЕДОВАНИЯ
--
поляризованный свет
--
ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ
--
ЛАЗЕРНЫЙ
--
СКАНИРующий
--
МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ
--
МИКРОСКОПИЯ
--
КЕРАМИКА
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие
4.
669.01
К56
Ковалев, А. И.
Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов [Текст] : научное издание / А.И. Ковалев, Г.В. Щербединский. - М. : Металлургия, 1989. - 191 с. : рис., табл., фото. - Библиогр.: с. 182-191. -
ISBN
5-229-00444-4 : 2.40 р.
Приложения: с. 129-182
ГРНТИ
53.49.19
УДК
669.01
Кл.слова (ненормированные):
РАСТРОВАЯ
--
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
--
РЕНТГЕНОВСКИЙ
--
МИКРОАНАЛИЗ
--
ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ
--
СПЕКТРОСКОПИЯ
--
ОЖЕ - спектроскопия
--
ПОТЕРИ ЭНЕРГИИ
--
МАСС - спектроскопия
--
ЛАЗЕРНЫЙ
--
МИКРОЗОНДОВЫЙ АНАЛИЗ
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Щербединский, Г.В.
Свободных экз. нет
Найти похожие
5.
669.01
И32
Избранные методы исследования
в металловедении [Текст] : пер. с нем. / Ред. Г.-Й Хунгер. - М. : Металлургия, 1985. - 416 с. : граф., рис., табл., фото. - Библиогр.: с. 407-414. Предм. указ.: с. 415-416. - (в пер.) : 4.00 р.
ГРНТИ
53.49.19
УДК
669.01
Кл.слова (ненормированные):
ВЗАИМОСВЯЗЬ
--
СТРУКТУРЫ
--
СВОЙСТВ
--
МАТЕРИАЛА
--
ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИЕ
--
КОЛИЧЕСТВЕННАЯ
--
МЕТАЛЛОГРАФИЯ
--
КАЛОРИМЕТРИЧЕСКИЕ
--
КОНСТАНТЫ
--
РАВНОВЕСИЯ
--
РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ
--
ДИФРАКЦИЯ
--
НЕЙТРОНОВ
--
ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ
--
ЭЛЕКТРОННАЯ
--
МИКРОСКОПИЯ
--
МАСС - СПЕКТРОМЕТРИЯ
--
ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ
--
СПЕКТРОСКОПИЯ
--
ОЖЕ - ЭЛЕКТРОННАЯ
--
АННИГИЛЯЦИЯ ПОЗИТРОНОВ
--
МЕССБАУЭРОВСКАЯ
--
ЭФФЕКТ МЕССБАУЭРА
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Хунгер, Г.-Й \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
1..5