Логин (фамилия): Пароль (штрих-код):

Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска

Базы данных: 
Электронный каталог МУБиНТ, г. ЯрославльЭлектронный каталог МУБиНТ, г. РыбинскЦентр иностранной литературыСводный каталог НТЛ по Ярославской области"Руконт"-Национальный цифровой ресурсЭлектронный каталог выпускных квалификационных работ

Виды поиска: 
Стандартный Расширенный По словарю
Поиск в найденном
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=автоионная<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
 1..4 
1.
621.357
К56

    Ковенский, И. М.
    Испытания гальванических покрытий [Текст] : справочное издание / И.М. Ковенский, В.В. Поветкин. - М. : "Интермет Инжиниринг", 2001. - 136 с. : ил. - Библиогр.: с.134-135 . - ISBN 5-89594-061-7 (в пер.) : 198.00 р.
ГРНТИ
53.49
УДК
621.357
620.178

Кл.слова (ненормированные):
МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ -- твердость -- прочность -- внутренние напряжения -- вязкость разрушения -- трещиностойкость -- адгезионная  -- жаростойкость -- паяемость -- испытания  -- коррозионная стойкость -- пористость -- покрытий -- микроскопические  -- методы исследования -- световая  -- микроскопия -- автоионная -- растровая  -- электронная  -- рентгеноспектральный  -- микроанализ -- анализ -- спектроскопия -- резонансные  -- методы исследования -- ядерный  -- гамма-резонанс -- эффект Мессбауэра -- аннигиляция позитронов

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Поветкин, В.В.
Свободных экз. нет
Найти похожие
2.
620.22
Д50

   
    Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении [Текст] : пер. с англ. / Ред. С. Амелинкс, Р. Геверс, Дж. Ван Ландё. - М. : Металлургия, 1984. - 503 с. : граф., рис., фото. - Библиогр.: с. 500-502. - (в пер.) : 6.20 р.
ГРНТИ
81.09
УДК
620.22

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- рентгенография -- нейронография -- медленных электронов -- автоионная микроскопия -- метод слабых пучков -- идентификация -- малых кластеров -- фазовые превращения -- мартенситные -- кикучи-линии -- рентгеновская топография

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Амелинкс, С. \ред.\; Геверс, Р. \.\; Ван Ландё, Дж. \.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
3.
620.18
М98

    Мюллер, Э.
    Автоионная микроскопия (принципы и применение) [Текст] : пер. с англ. / Э. Мюллер, Т. Цонь; Ред. Л.П. Потапов. - М. : Металлургия, 1972. - 360 с. : ил. - Библиогр.: с. 354-360. - (в пер.) : 2.54 р.
ГРНТИ
29.35.43
УДК
620.18

Кл.слова (ненормированные):
ПРИНЦИПЫ -- ИСПАРЕНИЕ -- ПОЛЕМ -- УСТРОЙСТВО -- МИКРОСКОП -- ТЕХНИКА -- НАБЛЮДЕНИЯ -- РЕГИСТРАЦИЯ -- ИЗОБРАЖЕНИЯ -- ИНТЕРПРЕТАЦИЯ -- ПРИМЕНЕНИЕ

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Цонь, Т.; Потапов, Л.П. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
4.
620.1.05
П75

   
    Приборы и методы физического металловедения [Текст] : пер. с англ. Вып.2 / Ред. Ф. Вейнберг. - М. : Мир, 1974. - 363 с. : граф., рис., табл., фото. - Библиогр. в конце глав. - (в пер.) : 1.70 р.
ГРНТИ
81.09.81
УДК
620.1.05

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РАСТРОВАЯ -- АВТОИОННАЯ -- АВТОИОНизация -- ТЕРМОЭЛЕКТРОННАЯ -- ЭМИССИОННАЯ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ -- МИКРОАНАЛИЗ -- СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ -- АТОМНАЯ -- АБСОРБЦИОННАЯ -- СПЕКТРОфотометрИЯ -- СПЕКТРОграфы

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Вейнберг, Ф. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие
 1..4