Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска

Базы данных:

Сводный каталог НТЛ по Ярославской области

Электронный каталог выпускных квалификационных работ

Виды поиска:

Поиск в найденном

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Брандон, Д$<.>)
Общее количество найденных документов : 4 Показаны документы с 1 по 4

1..4

В338.4я73
Б87

Брандон, Д.
Микроструктура материалов.Методы исследования и контроля [Текст] : учеб.пособие для вузов / Д.Брандон,У.Каплан.Ин-т химической физики РАН.Пер.с англ. - М. : Техносфера, 2004. - 377с. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 5-94836-018-0. - ISBN 0-471-98501-5 : 181.82 р.

ББК В338.4я73
Рубрики: Оптика электронная
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- электроскопия электронная -- микроанализаторы рентгеновские -- учебник В338.4

Держатели документа:
ЯрГУ

Доп.точки доступа:
Каплан, У. ЯрГУ/ЧЗ/НБ, ЯрГУ/НА/НБ, ЯрГУ/УФ/НБ
Свободных экз. нет
Найти похожие

620.18
Б 87

Брандон, Д.
Микроструктура материалов [Текст] : Методы исследования и контроля : учеб. пособие для обучаюшихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 377 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. : с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 : 275-00 р.

УДК

620.18

Рубрики: Испытания материалов--микроструктура материалов
Кл.слова (ненормированные):
микроструктура материалов ; исследования ; контроль

Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10

Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие

УДК

620.18

620.22
Б87

Брандон, Д
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие для вузов: Пер. с англ. / Д Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р.
Приложения: с. 363-375

ГРНТИ	81.09.03
УДК	620.22

Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА -- ПАРАМЕТРЫ -- ИЗОБРАЖЕНИЕ -- Оже - электронов -- рентгеновский АНАЛИЗ -- КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ -- ДИФРАКЦИОННЫй -- РАССЕЯНИЕ излучения -- СТРУКТУРА -- ЭЛЕКТРОННАЯ -- ДИСЛОКАЦИИ -- РЕШЕТКА -- ТОЧЕЧНАЯ -- ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ -- ЯЧЕЙКИ -- ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы -- ИНДЕКСЫ Миллера -- ЕДИНИЧНыЕ векторы -- СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ -- ПРОЕКЦИИ -- ПОСТРОЕНИЕ -- ЦЕМЕНТИТ -- РАССЕЯНИЕ излучения -- УРАВНЕНИЕ Лауэ -- Брэгга -- ДИАГРАММЫ Кукучи -- ОБРАТНОЕ пространство -- ПОРОШКОВАЯ -- ПОЛИКРИСТАЛЛическая -- МОНОКРИСТАЛЛЫ -- АТОМНОЕ -- СТРУКТУРНЫЙ -- КОЭФФИЦИЕНТ -- ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов -- МНОГОСЛОЙНЫЕ -- нанопокрытие -- ОПТИЧЕСКая -- ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА -- КОНСТРУКЦИЯ -- МЕТОД фазового контраста -- дифференциально - интерференционного -- темного поля -- многолучевой интерференции -- катодолюминисценция -- НАПЫЛЕНИЕ покрытия -- ФРАКТОГРАФИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ параллакса -- МИКРОАНАЛИЗ -- ХИМИЧЕСКИЙ -- поверхности -- ФОТОЭЛЕКТРОННая -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- ИОННАЯ -- масс - спектрометрия -- калибровка -- стереология -- ИЗОТРОПИЯ -- АНИЗОТРОПИЯ -- гомогенность -- ГЕТЕРОГЕННОСТЬ -- межплоскостные углы -- гексагональная -- ИССЛЕДОВАНИЯ -- поляризованный свет -- ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ -- ЛАЗЕРНЫЙ -- СКАНИРующий -- МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ -- МИКРОСКОПИЯ -- КЕРАМИКА

Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163

Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие

1..4