Логин
(фамилия)
:
Пароль
(штрих-код)
:
Сводный каталог НТЛ по Ярославской области - результаты поиска
Базы данных:
Электронный каталог МУБиНТ, г. Ярославль
Электронный каталог МУБиНТ, г. Рыбинск
Центр иностранной литературы
Сводный каталог НТЛ по Ярославской области
"Руконт"-Национальный цифровой ресурс
Электронный каталог выпускных квалификационных работ
Виды поиска:
Стандартный
Расширенный
По словарю
Поиск в найденном
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>A=Брандон, Д$<.>)
Общее количество найденных документов
:
4
Показаны документы
с 1 по 4
1..4
1.
В338.4я73
Б87
Брандон
, Д.
Микроструктура материалов.Методы исследования и контроля [Текст] : учеб.пособие для вузов / Д.
Брандон
,У.Каплан.Ин-т химической физики РАН.Пер.с англ. - М. : Техносфера, 2004. - 377с. - (Мир материалов и технологий). -
ISBN
5-94836-018-0. -
ISBN
0-471-98501-5 : 181.82 р.
ББК
В338.4я73
Рубрики:
Оптика электронная
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы
--
электроскопия электронная
--
микроанализаторы рентгеновские
--
учебник В338.4
Держатели документа:
ЯрГУ
Доп.точки доступа:
Каплан, У. ЯрГУ/ЧЗ/НБ, ЯрГУ/НА/НБ, ЯрГУ/УФ/НБ
Свободных экз. нет
Найти похожие
2.
620.18
Б 87
Брандон
, Д.
Микроструктура материалов [Текст] : Методы исследования и контроля : учеб. пособие для обучаюшихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика" / Д.
Брандон
, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 377 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. : с. 376-377. -
ISBN
5-94836-018-0 : 275-00 р.
УДК
620.18
Рубрики:
Испытания материалов--микроструктура материалов
Кл.слова (ненормированные):
микроструктура материалов ; исследования ; контроль
Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие
3.
620.18
Б 87
Брандон
, Д.
Микроструктура материалов [Текст] : Методы исследования и контроля : учеб. пособие для обучаюшихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика" / Д.
Брандон
, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 377 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. : с. 376-377. -
ISBN
5-94836-018-0 : 275-00 р.
УДК
620.18
Рубрики:
Испытания материалов--микроструктура материалов
Кл.слова (ненормированные):
микроструктура материалов ; исследования ; контроль
Держатели документа:
ИГХТУ : 153000 г. Иваново, пр. Энгельса, 10
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие
4.
620.22
Б87
Брандон
, Д
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие для вузов: Пер. с англ. / Д
Брандон
, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 378 с. : граф., рис., табл., фото. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 376-377. -
ISBN
5-94836-018-0 (в пер.) : 375.25 р.
Приложения: с. 363-375
ГРНТИ
81.09.03
УДК
620.22
Кл.слова (ненормированные):
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
--
КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
--
ПАРАМЕТРЫ
--
ИЗОБРАЖЕНИЕ
--
Оже - электронов
--
рентгеновский АНАЛИЗ
--
КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ
--
ДИФРАКЦИОННЫй
--
РАССЕЯНИЕ излучения
--
СТРУКТУРА
--
ЭЛЕКТРОННАЯ
--
ДИСЛОКАЦИИ
--
РЕШЕТКА
--
ТОЧЕЧНАЯ
--
ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ
--
ЯЧЕЙКИ
--
ПРоСТРАНСТВЕННЫЕ группы
--
ИНДЕКСЫ Миллера
--
ЕДИНИЧНыЕ векторы
--
СТЕРЕОГРАФИЧЕСКиЕ
--
ПРОЕКЦИИ
--
ПОСТРОЕНИЕ
--
ЦЕМЕНТИТ
--
РАССЕЯНИЕ излучения
--
УРАВНЕНИЕ Лауэ
--
Брэгга
--
ДИАГРАММЫ Кукучи
--
ОБРАТНОЕ пространство
--
ПОРОШКОВАЯ
--
ПОЛИКРИСТАЛЛическая
--
МОНОКРИСТАЛЛЫ
--
АТОМНОЕ
--
СТРУКТУРНЫЙ
--
КОЭФФИЦИЕНТ
--
ИНТЕНСИВНОСТЬ рефлексов
--
МНОГОСЛОЙНЫЕ
--
нанопокрытие
--
ОПТИЧЕСКая
--
ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА
--
КОНСТРУКЦИЯ
--
МЕТОД фазового контраста
--
дифференциально - интерференционного
--
темного поля
--
многолучевой интерференции
--
катодолюминисценция
--
НАПЫЛЕНИЕ покрытия
--
ФРАКТОГРАФИЯ
--
ИЗМЕРЕНИЕ параллакса
--
МИКРОАНАЛИЗ
--
ХИМИЧЕСКИЙ
--
поверхности
--
ФОТОЭЛЕКТРОННая
--
СПЕКТРОСКОПИЯ
--
ИОННАЯ
--
масс - спектрометрия
--
калибровка
--
стереология
--
ИЗОТРОПИЯ
--
АНИЗОТРОПИЯ
--
гомогенность
--
ГЕТЕРОГЕННОСТЬ
--
межплоскостные углы
--
гексагональная
--
ИССЛЕДОВАНИЯ
--
поляризованный свет
--
ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ
--
ЛАЗЕРНЫЙ
--
СКАНИРующий
--
МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ
--
МИКРОСКОПИЯ
--
КЕРАМИКА
Держатели документа:
ОАО НПО Сатурн : 152093, г. Рыбинск, Ярославской обл., пр. Ленина, 163
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Свободных экз. нет
Найти похожие
1..4